MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：29
- 题名/责任者:
- 工程纳米测量基础/(英) 理查德·利奇著 袁道成 ... [等] 译
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 杭州:浙江大学出版社,2017
- ISBN及定价:
- 978-7-308-17563-0/CNY98.00
- 载体形态项:
- 300页:图;24cm
- 个人责任者:
- 利奇 (Leach, Richard) 著
- 个人次要责任者:
- 袁道成 译
- 学科主题:
- 纳米技术-应用-精密工程测量
- 中图法分类号:
- TB22
- 题名责任附注:
- 译者还有：朱学亮、刘乾、何华彬
- 版本附注:
- 据原书第2版译出
- 责任者附注:
- 理查德·利奇(RichardLeach)，诺丁汉大学测量学教授。主要研究方向为表面形貌测量、精密增材制造3D结构测量方法、工业应用大型表面高分辨率控制方法、X射线CT成像技术等。
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。
- 使用对象附注:
- 本书适用于测量技术、机械设计和机械加工等相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员
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