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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:22 

题名/责任者:
光电测试技术/主编刘国栋, 赵辉, 浦昭邦
版本说明:
第3版
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2018
ISBN及定价:
978-7-111-58564-0/CNY49.80
载体形态项:
354页:图;26cm
并列正题名:
Photoelectric measurement technology
个人责任者:
刘国栋 主编
个人责任者:
赵辉 主编
个人责任者:
浦昭邦 主编
学科主题:
光电检测-高等学校-教材
中图法分类号:
TN206-43
一般附注:
普通高等教育“十一五”国家级规划教材 普通高等教育光电信息科学与工程专业规划教材
相关题名附注:
封面英文题名: Photoelectric measurement technology
书目附注:
有书目 (第353-354页)
提要文摘附注:
本书首先系统地介绍了光电测量所必需的基础理论,即光度学的基本理论和常用的光学系统,然后深入、重点地讲述了光电测量的三大基本要素:光源、光电检测器件和光电检测电路。在本书的下篇(应用技术篇),重点讲述了光电测量的核心技术:光学变换与光电变换技术及其测量系统,包括光载波的调制变换技术、非相干信号的光电变换与检测技术、相干信号调制变换与检测技术。介绍了现代三大热门测试技术,即激光测量技术、视觉检测技术和光纤测量技术,使读者对光电测试系统及其应用有了更深入的了解。
使用对象附注:
高等学校相关专业师生
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态 还书位置
TN206/13=3 A1784572   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借 自科借阅2(T)(113室)
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