MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：22
- 题名/责任者:
- 单板级JTAG测试技术/王承, 刘治国编著
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-118-09986-7/CNY58.00
- 载体形态项:
- X, 205页:图;21cm
- 个人责任者:
- 王承, 1976- 编著
- 个人责任者:
- 刘治国, 1977- 编著
- 学科主题:
- 集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目 (第204-205页)
- 提要文摘附注:
- 本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。
- 使用对象附注:
- 本书适合于相关领域工程技术人员阅读, 也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书
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