MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：43
- 题名/责任者:
- 电子元器件可靠性技术基础/付桂翠 ... [等] 编著
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-3714-2/CNY55.00
- 载体形态项:
- 268页:图;26cm
- 丛编项:
- 飞行器质量与可靠性专业系列教材
- 个人责任者:
- 付桂翠 编著
- 个人责任者:
- 万博 编著
- 个人责任者:
- 张素娟 编著
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN6
- 题名责任附注:
- 题名页题其余编著者: 万博, 张素娟, 高成
- 书目附注:
- 有书目 (第266-268页)
- 提要文摘附注:
- 本书在原版教材的基础上，增加了元器件可靠性概述，可靠性试验，以及基于失效物理的电子元器件可靠性评价等章节，介绍了电子元器件可靠性领域的新技术，新方法，具有较强的理论性和工程实用性。
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