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题名/责任者:

纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/(美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 续海涛等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-111-52184-6/CNY59.90

载体形态项:

XIII, 191页:图;24cm

统一题名:

Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits

丛编项:

国际信息工程先进技术译丛

个人责任者:

戈埃尔 (Goel, Sandeep K.) 主编

个人责任者:

查克拉巴蒂 (Chakrabarty, Krishnendu) 主编

个人次要责任者:

续海涛 译

学科主题:

纳米材料-MOS集成电路-缺陷检测

中图法分类号:

TN432

相关题名附注:

英文题名取自封面

书目附注:

有书目 (第184-191页)

提要文摘附注:

本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成（ATPG）；第2部分关于全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案，可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷；第4部分介绍了SDD的测试标准，以量化的指标来评估SDD覆盖率。本书内容由简入深，对SDD测试全面展开，有助于提高读者的理解和掌握。

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