MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- Fundamentals of nanoscale film analysis = 纳米薄膜分析基础 / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer.
- 出版发行项:
- 北京 : 科学出版社, 2008.
- ISBN:
- 9787030222596
- 载体形态项:
- xii, 336 p. : ill. ; 25 cm.
- 变异题名:
- 纳米薄膜分析基础
- 丛编题名:
- 国外物理名著系列 ; 17
- 个人责任者:
- Alford, Terry L.
- 附加个人名称:
- Feldman, Leonard C.
- 附加个人名称:
- Mayer, James W., 1930-
- 论题主题:
- Thin films.
- 中图法分类号:
- TB383
- 书目附注:
- Includes bibliographical references and index.
- 原版附注:
- Reprint. Originally published: New York : Springer, c2007. 9780387292601.
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