MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 半导体测试技术原理与应用/刘新福，杜台平，李为民编著
- 出版发行项:
- 北京:冶金工业出版社,2006.10
- ISBN及定价:
- 7-5024-4101-8 平装/CNY30.00
- 载体形态项:
- 357页;大32开
- 个人责任者:
- 李为民 编著
- 个人责任者:
- 杜台平 编著
- 个人责任者:
- 刘新福 编著
- 中图法分类号:
- TN
- 提要文摘附注:
- 本书共11章。第1～6章讨论了微区电学参数测试的重要性，综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点；详细分析回探针测量技术的基本原理，重点讨论常规直线回探针方法、改进范德堡法和改进Pymaszewsk，回探针测测试方法。第7-11章重点讨论测试技术在材料科学等领域上的分析与应用及无接触测量技术。
- 使用对象附注:
- 电子、材料、化工、机械、国防等领域分析测试仪器及使用科研和工程技术人员，高等院校相关专业本科研究生
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