MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：24
- 题名/责任者:
- Design-for-test for digital IC's and embedded core systems = 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 / Alfred L. Crouch著.
- 出版发行项:
- 北京 : 中国电力出版社, 2004.
- ISBN:
- 7508319044
- 载体形态项:
- xxviii, 348 p. : ill. ; 24 cm.
- 变异题名:
- 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
- 丛编题名:
- 原版风暴系列
- 个人责任者:
- Crouch, Alfred L.
- 论题主题:
- Digital integrated circuits-Design and construction.
- 论题主题:
- Embedded computer systems-Design and construction.
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 书目附注:
- Includes bibliographical references and index.
- 原版附注:
- Reprint. Originally published: Upper Saddle River : Prentice Hall PTR, c1999. 0130848271.
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