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- 题名/责任者:
- 统计过程控制与评价:Cpk、SPC和PPM技术/贾新章, 李京苑编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2004.8
- ISBN及定价:
- 7-121-00204-3/CNY28.00
- 载体形态项:
- 182页;24cm
- 丛编项:
- 电子元器件质量与可靠性技术丛书
- 中图法分类号:
- TN605
- 提要文摘附注:
- 本书介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制, 包括实施SPC技术、Cpk技术和PPM技术的必要性、基本概念和方法, 对元器件生产过程应用SPC技术和Cpk技术时出现的特殊问题和解决方法, 重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。
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