MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：17
- 题名/责任者:
- 集成电路测试技术/武乾文主编
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-121-44351-0 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- xvii, 329页:图;25cm
- 丛编项:
- 集成电路系列丛书.集成电路封装测试
- 个人责任者:
- 武乾文 主编
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 一般附注:
- 工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程
- 相关题名附注:
- 英文并列题名取自封面
- 书目附注:
- 有书目 (第 [314]-329页)
- 提要文摘附注:
- 本书共分10章，内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。
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