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MARC状态:订购  文献类型:规范文档 浏览次数:77 

题名/责任者:
CMOS数字集成电路:分析与设计/(美) Sung-Mo Kang, (瑞士) Yusuf Leblebici, (韩) Chulwoo Kim著 王志功, 窦建华等译
版本说明:
第2版
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2015.4
ISBN及定价:
978-7-121-24987-7/CNY79.00
载体形态项:
10, 472页, [8] 页图版:图 (部分彩图);26cm
统一题名:
COMS digital integrated circuits : analysis and design
其它题名:
分析与设计
丛编项:
国外电子与通信教材系列
个人责任者:
康松默 (Kang, Sung-Mo)
个人责任者:
莱布莱比吉 (Leblebici, Yusuf)
个人责任者:
(Kim, Chulwoo)
个人次要责任者:
王志功
个人次要责任者:
窦建华
学科主题:
CMOS电路-电路分析-高等学校-教材
学科主题:
CMOS电路-电路设计-高等学校-教材
中图法分类号:
TN432
版本附注:
译自原书第4版
出版发行附注:
本授权中文简体字翻译版由麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版公司和电子工业出版社合作出版
责任者附注:
责任者Sung-Mo Kang规范汉译姓名: 康松默; 责任者Leblebici规范汉译姓: 莱布莱比吉; 责任者Kim规范汉译姓: 金
书目附注:
有书目 (第468-472页)
提要文摘附注:
全书详细讲述了CMOS数字集成电路的相关内容, 在第三版的基础上增加了新的内容和章节, 提供了反映现代技术发展水平和电路设计的最新资料。全书共15章。第1章至第8章详细讨论MOS晶体管的相关特性和工作原理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理; 第9章至第13章主要介绍应用于先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路、先进的半导体存储电路、低功耗CMOS逻辑电路、数字运算和转换电路、芯片的I/O设计; 第14章和第15章分别讨论电路的可制造性设计和可测试性设计这两个重要问题。
使用对象附注:
本书是现代数字集成电路设计的理想教材和参考书, 可供与集成电路设计领域有关的各电类专业的本科生和研究生使用, 也可供从事集成电路设计、数字系统设计和VLSI设计等领域的工程师参考
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