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MARC状态：审校　 文献类型：中文图书　浏览次数：14　

题名/责任者:
高频、微波半导体器件的计量测试/曹余录等编著
出版发行项:
北京:中国计量出版社,1992.12
ISBN及定价:
7-5026-0562-2/$4.20
载体形态项:
162页;19cm
编目员补充题名:
半导体 计量
丛编项:
无线电计量测试丛书/汤世贤主编;15
个人责任者:
曹余录 编著
学科主题:
半导体器件-计量
学科主题:
半导体器件-测试
中图法分类号:
TN320.7
中图法分类号:
TN307
提要文摘附注:
本书内容包括:晶体管直流参数计量测试,高频、微波功率晶体管功率增益和输出功率计量测试等7章。
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