江汉大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录



MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:21 

题名/责任者:
芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界/刘斌著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2018
ISBN及定价:
978-7-121-33901-1/CNY99.00
载体形态项:
XXII, 538页:图;26cm
并列正题名:
WalKing guide to SoC verification:the panorama of verification from system to UVM
个人责任者:
刘斌
学科主题:
芯片-验证
中图法分类号:
TN407
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
书目附注:
有书目 (第537-538页)
提要文摘附注:
本书针对芯片验证领域不同级别的验证工程师,给出由浅入深的技术指南:学习验证理论来认识验证流程和标准,学习SystemVerilog语言和UVM方法学来掌握目前主流的动态验证技术,了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态 还书位置
TN407/18 A1817225   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借 自科借阅2(T)(113室)
TN407/18 A1817226   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借 自科借阅2(T)(113室)
TN407/18 A1817227   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借 自科借阅2(T)(113室)
显示全部馆藏信息
借阅趋势

您可能感兴趣的图书(点击查看)
同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架