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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:89 

题名/责任者:
X射线衍射测试分析基础教程/徐勇, 范小红主编
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-122-18550-1/CNY29.00
载体形态项:
173页:图;26cm
个人责任者:
徐勇 主编
个人责任者:
范小红 主编
学科主题:
X射线衍射分析-高等教育-教材
中图法分类号:
O657.39
一般附注:
“十二五”普通高等教育本科规划教材
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书在简单介绍X射线衍射分析原理的基础上, 重点介绍X射线衍射分析法在材料研究方面的应用。主要包括晶体学基础与X射线运动学衍射原理 ; 现代X射线衍射仪测试原理 ; X射线衍射仪测量方法与分析技术 ; X射线衍射谱线分析与应用 ; X射线衍射物相分析 ; 晶体点阵常数精确测定 ; 宏观内应力测定 ; 织构测定与单晶定向 ; Rietveld方法简介。
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