MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：12
- 题名/责任者:
- 数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2011.04
- ISBN及定价:
- 978-7-03-030576-3 精装/CNY68.00
- 载体形态项:
- x, 433页;25cm
- 个人责任者:
- 李晓维
- 学科主题:
- 数字集成电路-电路设计-电路设计
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面: 容缺陷 (和故障) 、容参数偏差以及软错误 ; 包括3S技术 (自测试、自诊断、自修复) 的基本原理。
- 使用对象附注:
- 集成电路容错设计方向学术研究人员，集成电路EDA工具开发和应用人员，高校教师、研究生和高年级本科生
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