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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:39 

题名/责任者:
高速数字接口与光电测试/李凯著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-302-59040-8/CNY178.00
载体形态项:
425页:彩图;26cm
并列正题名:
High speed digital interface and photoelectric test
个人责任者:
李凯
学科主题:
数字接口-接口技术
学科主题:
光电检测-测试技术
中图法分类号:
TN919.5
一般附注:
四色印刷
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
提要文摘附注:
本书从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了介绍。
全部MARC细节信息>>
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