江汉大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录



MARC状态：审校　 文献类型：中文图书　浏览次数：17　

题名/责任者:
高频、微波半导体器件的计量测试/曹余录等编著
出版发行项:
北京:中国计量出版社,1992.12
ISBN及定价:
7-5026-0562-2/$4.20
载体形态项:
162页;19cm
编目员补充题名:
半导体 计量
丛编项:
无线电计量测试丛书/汤世贤主编;15
个人责任者:
曹余录 编著
学科主题:
半导体器件-计量
学科主题:
半导体器件-测试
中图法分类号:
TN320.7
中图法分类号:
TN307
提要文摘附注:
本书内容包括:晶体管直流参数计量测试,高频、微波功率晶体管功率增益和输出功率计量测试等7章。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态 还书位置
TN32/14 A0274525   剔旧图书临时书库（909）     导航 非可借 剔旧图书临时书库（909）
TN32/14 A0274526   剔旧图书临时书库（909）     导航 非可借 剔旧图书临时书库（909）
TN32/14 A0274527   文理学院图书馆     导航 赠送出 文理学院图书馆
TN32/14 00095563   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借
TN32/14 00115882   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借
TN32/14 A0274528   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借
TN32/14 A0274524   样本密集书库     导航 阅览
显示全部馆藏信息
借阅趋势

您可能感兴趣的图书(点击查看)
同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架