MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：82
- 题名/责任者:
- 表面分析 (XPS和AES) 引论/原著 (英) John F. Watts, John Wolstenholme
- 出版发行项:
- 上海:华东理工大学出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-5628-2226-4/CNY28.00
- 载体形态项:
- 144页:图;23cm
- 丛编项:
- 当代材料科学与工程译丛
- 个人责任者:
- 沃茨 (Watts, John F.) 原著
- 个人责任者:
- 沃斯滕霍姆 (Wolstenholme, John) 原著
- 个人次要责任者:
- 吴正龙 译
- 学科主题:
- 表面分析-概论
- 中图法分类号:
- O656.9
- 责任者附注:
- 责任者Watts规范汉译姓: 沃茨; 责任者Wolstenholme汉译姓取自CIP：沃斯滕霍姆
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积XPS(SAXPS)、成像XPS、 XPS深度剖析、场发射AES／SAM等功能的分析技术，以及在冶金、腐蚀、陶瓷、催化剂、微电子半导体材料、黏合剂、涂料聚合物材料等领域中的应用；介绍了现代电子能谱仪中的微聚焦单色器、场发射体、离子枪、电子枪、能量分析器／传输透镜、荷电补偿器、多通道探测器、平行成像系统、平行数据采集、数据处理系统等等。书中将XPS和AES技术与其他表面分析技术作了比较。书后附有参考文献、中英文电子能谱分析技术名词术语、网络资源等一些有用的信息。
- 使用对象附注:
- 本书既可供学习电子能谱分析技术的高年级本科生和研究生用作教材，也可供从事电子能谱专业人员以及使用电子能谱分析技术的科研技术人员阅读
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