MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：44
- 题名/责任者:
- X射线荧光光谱分析/吉昂 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-03-010868-X/CNY29.00
- 载体形态项:
- 295页:图;26cm
- 丛编项:
- 中国科学院研究生教学丛书
- 个人责任者:
- 吉昂 编著
- 学科主题:
- X射线荧光光谱法-研究生-教材
- 中图法分类号:
- O657.34-43
- 中图法分类号:
- O657.34
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对近年来提出的半定量分析、簿膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用及普通波长色散x射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用等领域作了专门论述。本书中附有常用的基本参数数据。
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