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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:75 

题名/责任者:
聚合物表面分析:X射线光电子谱 (XPS) 和静态次级离子质谱 (SSIMS)/(英) D. 布里格斯著 曹立礼, 邓宗武译
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2001
ISBN及定价:
7-5025-3397-4/CNY19.00
载体形态项:
197页:图;21cm
并列正题名:
Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS
其它题名:
X射线光电子谱 (XPS) 和静态次级离子质谱 (SSIMS)
个人责任者:
布里格斯, D. (Briggs, D.), 1948- 著
个人次要责任者:
曹立礼
个人次要责任者:
邓宗武
学科主题:
高聚物-工程材料-表面分析
中图法分类号:
TB324
相关题名附注:
并列题名取自封面
书目附注:
有书目 (第191-197页)
全部MARC细节信息>>
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