MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：50
- 题名/责任者:
- 数字电路老化预测与容忍/徐辉著
- 出版发行项:
- 合肥:中国科学技术大学出版社,2018.02
- ISBN及定价:
- 978-7-312-04359-8/CNY30.00
- 载体形态项:
- 123页;24cm
- 个人责任者:
- 徐辉
- 学科主题:
- 数字集成电路-研究
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 一般附注:
- 国家自然科学基金青年科学基金项目、国家公派高级研究学者、访问学者、博士后项目、安徽省高校省级自然科学研究重大项目资助出版
- 提要文摘附注:
- 本书围绕负偏置温度不稳定性引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究，主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析；对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。
- 使用对象附注:
- 本书适用于计算机专业本科生、研究生以及教师
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