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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:45 

题名/责任者:
微电子引线键合/(美) 乔治·哈曼著 罗建强 ... [等] 译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-111-69709-1 精装/CNY168.00
载体形态项:
XV, 320页:图;25cm
统一题名:
Wire bonding in microelectronics
丛编项:
半导体与集成电路关键技术丛书
个人责任者:
哈曼 (Harman, George)
个人次要责任者:
罗建强
个人次要责任者:
周文艳
个人次要责任者:
肖庆
学科主题:
微电子技术-电子器件-芯片-引线技术-键合工艺
中图法分类号:
TN4
一般附注:
IC工程师精英课堂
题名责任附注:
题名页题其余责任者:周文艳、肖庆、高峰、裴洪营、崔苇波、徐榕青、武海军、张剑、康菲菲、闫未霞、付全等20人
版本附注:
据原书第3版译出
相关题名附注:
英文并列题名取自版权页
提要文摘附注:
本书系统总结了过去70年引线键合技术的发展脉络和最新成果,并对未来的发展趋势做出了展望。主要内容包括超声键合系统与技术、键合引线的冶金学特性、引线键合测试方法、引线键合金属界面反应、键合焊盘镀层及键合可靠性、清洗、引线键合中的力学问题等,最后讨论了先进引线键合技术、Cu/Lo-k器件—键合和封装、引线键合工艺建模与仿真。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态 还书位置
TN4/195 A1943180   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借 自科借阅2(T)(113室)
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