MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 超大规模集成电路测试/雷绍充等编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-121-06307-7/CNY45.00
- 载体形态项:
- 12.319页:图;26cm
- 个人责任者:
- 雷绍充 编著
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN470.7
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。
- 使用对象附注:
- 使用对象：高等院校学生，从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员
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