MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：10
- 题名/责任者:
- 公差配合与技术测量/吕永智主编 董庆怀副主编
- 版本说明:
- 2版
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2008-9-1
- ISBN及定价:
- 978-7-111-09212-4 7-111-09212-0/CNY20.00
- 载体形态项:
- 199页;26cm
- 个人责任者:
- 吕永智
- 个人次要责任者:
- 董庆怀
- 学科主题:
- 公差
- 中图法分类号:
- TG801
- 一般附注:
- 高等职业技术教育规划教材 机电一体化—数控技术应用专业
- 书目附注:
- 有书目(第199页)
- 提要文摘附注:
- 本书内容包括：光滑圆柱的公差与配合、测量技术基础、形状和位置公差与测量、表面粗糙度与测量、螺纹结合、圆柱齿轮公差与测量等。
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