MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：33
- 题名/责任者:
- 微电子计量测试技术/沈森祖主著 沈森祖 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 西安:西北工业大学出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-5612-2516-5/CNY30.00
- 载体形态项:
- 227页:图;26cm
- 个人责任者:
- 沈森祖 主著
- 个人责任者:
- 韩红星 著
- 个人责任者:
- 刘文捷 著
- 个人责任者:
- 吴丹 著
- 学科主题:
- 微电子技术-计量技术-测试技术
- 中图法分类号:
- TN407
- 题名责任附注:
- 题名页题: 沈森祖, 韩红星, 刘文捷, 吴丹著
- 相关题名附注:
- 英文并列题名取自封面
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书从工程的实际应用出发, 系统地介绍了微电子计量测试的基本概念, 并通过电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计开发技术等部分, 深入介绍了作者及所在团队——中船重工集团公司第709研究所第六研究室 (国防微电子一级计量站)——25年来, 在研究、工作实践中取得的主要成果和经验。
- 使用对象附注:
- 可供相关工程技术人员、科研人员阅读参考, 也可作为高等学校有关专业教材或教学参考书
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