- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维等著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010.06
- ISBN及定价:
- 978-7-03-027894-4 平脊精装/CNY58.00
- 载体形态项:
- 11,344页:图;24cm
- 其它题名:
- 测试压缩、测试功耗优化、测试调度
- 个人责任者:
- 李晓维 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.207
- 题名责任附注:
- 著者还有：韩银和、胡瑜、李佳
- 提要文摘附注:
- 本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器（龙芯2E和2F）为例介绍了相关成果的应用。
- 使用对象附注:
- 数字集成电路测试与设计研究的科研人员（尤其是在读研究生）
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