MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：35
- 题名/责任者:
- 集成电路测试技术基础/姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-122-02948-5/CNY26.00 (含光盘)
- ISRC及定价:
- CN-Z01-08-0017-0
- 载体形态项:
- 170页:图;24cm+光盘1片
- 个人责任者:
- 姜岩峰 编著
- 个人责任者:
- 张晓波 编著
- 个人责任者:
- 杨兵 编著
- 学科主题:
- 集成电路-测试-技术
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分，主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。另外，本书配DVD演示光盘，主要介绍的是混合信号集成电路的测试原理和方法，包括混合信号测试系统的硬件组成、硬件链接及操作等，与图书文字内容相辅相成，以助于深化理解测试概念。
- 使用对象附注:
- 集成电路测试领域的技术人员，微电子专业本科生和研究生
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