MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：26
- 题名/责任者:
- 半导体的检测与分析/许振嘉主编
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-03-019462-6 精装/CNY98.00
- 载体形态项:
- 635页:图;24cm
- 丛编项:
- 半导体科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 许振嘉 主编
- 学科主题:
- 半导体材料-参数测试
- 中图法分类号:
- TN304.07
- 书目附注:
- 有书目(第634-635页)
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。
- 使用对象附注:
- 半导体相关专业科研工作者，大学研究生、本科生
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