MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：21
- 题名/责任者:
- 微电子机械系统力学性能及尺寸效应/刘凯, 韩光平著
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-111-25575-8/CNY30.00
- 载体形态项:
- 209页:图;21cm
- 个人责任者:
- 刘凯, 1957- 著
- 个人责任者:
- 韩光平 著
- 学科主题:
- 微电子技术
- 中图法分类号:
- TN405
- 书目附注:
- 有书目 (第192-209页)
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