MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：48
- 题名/责任者:
- 电子元器件失效分析技术/工业和信息化部电子第五研究所组编 恩云飞, 来萍, 李少平编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-121-27230-1/CNY98.00
- 载体形态项:
- xix, 453页:图;24cm
- 丛编项:
- 可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 恩云飞 编著
- 个人责任者:
- 来萍 编著
- 个人责任者:
- 李少平 编著
- 团体次要责任者:
- 工业和信息化部电子第五研究所 组编
- 学科主题:
- 电子元件-失效分析
- 学科主题:
- 电子器件-失效分析
- 中图法分类号:
- TN601
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。
- 使用对象附注:
- 本书适合电子企业的质量和可靠性工程师，或者对失效分析技术有兴趣的工程技术人员参考阅读。
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