MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：36
- 题名/责任者:
- Characterization of organic thin films/Abraham Ulman
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2014.1
- ISBN及定价:
- 978-7-5603-4287-0/CNY98.00
- 载体形态项:
- xvii, 276页:图;23cm
- 并列正题名:
- 有机薄膜的表征
- 丛编项:
- 材料表征原版系列丛书
- 个人责任者:
- 乌尔曼 (Ulman, Abraham) 主编
- 学科主题:
- 薄膜技术-英文
- 中图法分类号:
- TB43
- 责任者附注:
- 责任者规范汉译姓: 乌尔曼
- 提要文摘附注:
- 最近几十年, 研究有机薄膜的分析技术经历了引人注目的发展。使用这些技术能够在分子级水平获得结构信息, 这样就可以将材料结构与材料性质联系起来。有机薄膜表征一书可以帮助材料科学家、物理学家、化学家及生物学家对结构与材料的关系有一个基础性理解, 这反过来也可以使先进材料的分子工程变为可能并且在分子制造领域开创新机会。本卷以关于Langmuir-Blodgett与自组装膜的介绍性章节作为开始, 接着讨论了利用不同分析技术研究其性质, 表面/界面与体特性都包含其中。
- 使用对象附注:
- 薄膜技术人员
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