MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：22
- 题名/责任者:
- 嵌入式系统设计的验证与调试技术/(印)罗伊乔杜里著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2010.07
- ISBN及定价:
- 978-7-302-23072-4/CNY29.00
- 载体形态项:
- 200页;26cm
- 中图法分类号:
- TP3
- 提要文摘附注:
- 《嵌入式系统设计的验证与调试技术》系统介绍了适用于嵌入式系统设计整个生命周期的实用调试和验证技术，涵盖了嵌入式系统设计的各个主要的抽象层次。在掌握了本书介绍的大量的调试和验证技术后，读者可以构建出可靠的嵌入式系统和软件。
- 使用对象附注:
- 适合所有从事嵌入式研究与开发的专业人员阅读
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