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MARC状态：审校　 文献类型：中文图书　浏览次数：18　

题名/责任者:
可靠性试验/刘明治编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2004
ISBN及定价:
7-121-00210-8/CNY45.00
载体形态项:
332页:图;24cm
丛编项:
电子元器件质量与可靠性技术丛书
个人责任者:
刘明治 编著
学科主题:
电子元件-可靠性试验
中图法分类号:
TN6-33
中图法分类号:
TN606
中图法分类号:
TN6
书目附注:
有书目
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