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MARC状态：审校　 文献类型：中文图书　浏览次数：31　

题名/责任者:
半导体的检测与分析/中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
出版发行项:
北京:科学出版社,1984.5
ISBN及定价:
/RMB3.70
载体形态项:
636页;大32开
丛编项:
实验物理学丛书
团体责任者:
中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室
中图法分类号:
TN307
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态
TN307/1 A0160635   自科借阅2(T)(113室)     导航 可借
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