MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：20
- 题名/责任者:
- 材料评价的分析电子显微方法/(日) 进藤大辅, (日) 及川哲夫合著 刘安生译
- 出版发行项:
- 北京:冶金工业出版社,2001
- ISBN及定价:
- 7-5024-2735-X/CNY38.00
- 载体形态项:
- 10, 181页:图;26cm
- 个人责任者:
- 进藤大辅 著
- 个人责任者:
- 及川哲夫 著
- 个人次要责任者:
- 刘安生 译
- 学科主题:
- 材料-电子显微镜分析
- 中图法分类号:
- TB30
- 相关题名附注:
- 版权页英文题名：Analytical electron microscopy for materials science
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书全面介绍了各种分析电子显微方法，首先介绍了各种分析电子显微方法的原理和实验技术，如讲解了电子能量损失谱和X 射线能谱分析方法的理论基础、实验技术和谱的解析；讲述了能量过滤方法，比较了各种类型的能量过滤器原理、结构和特点：介绍了确定杂质原子或添加元素原子位置占有率的通道增强微分析方法、纳米束电子衍射等。此外，还详细讲解了电子显微镜和各种分析装置的基本结构、工作原理、基本操作技术和最佳使用条件的设定方法等。
- 使用对象附注:
- 读者对象：材料科学、生物科学、石油化工、地质学等领域科技人员。
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