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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:13 

题名/责任者:
电子元器件可靠性技术教程/付桂翠 ... [等] 编著
出版发行项:
北京:北京航空航天大学出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-5124-0136-5/CNY35.00
载体形态项:
273页:图;23cm
个人责任者:
付桂翠 编著
学科主题:
电子元件-可靠性-高等学校-教材
中图法分类号:
TN60
一般附注:
普通高校“十一五”规划教材
书目附注:
有书目 (第271-273页)
提要文摘附注:
本书是高等工科院校“质量与可靠性”专业本科生教材,主要围绕元器件可靠性技术这一主题,针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态
TN60/7 A1435926  - 自科典藏库(5楼)     导航 可借
TN60/7 A1435927  - 自科借阅2(T)(113室)     导航 可借
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