MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:29
- 题名/责任者:
- 光干涉测量技术/吴 震等编著
- 出版发行项:
- 北京:中国计量出版社,1995
- ISBN及定价:
- 7-5026-0735-8/$20
- 载体形态项:
- 517页;20cm
- 编目员补充题名:
- 光干涉 测量
- 个人责任者:
- 吴震 编著
- 学科主题:
- 光学干涉仪 - 干涉测量法
- 学科主题:
- 干涉测量法 - 光学干涉仪
- 中图法分类号:
- TH744.3
全部MARC细节信息>>
MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:29