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MARC状态:审校  文献类型:西文图书 浏览次数:21 

题名/责任者:
ATE & instrumentation conference west : get ready for the next decade of test : proceedings, Jan. 8-11, 1990, Disneyland Hotel Convention Center, Anaheim, Ca. / spronsored by Electronics Test, Circuits Manufacturing, and EOS/ESD Technology magazines; endorsed by The American Society of Test Engineers.
出版发行项:
Boston : Miller Freeman Expositions, c1990.
ISBN:
0879301779
载体形态项:
xii, 661 p. : ill. ; 28 cm.
附加团体名称:
EOS/ESD Technology magazines.
附加团体名称:
Electronic Test, Circuits Manufacturing.
附加团体名称:
The American Society of Test Engineers.
论题主题:
Automatic checkout equipment-Congresses.
中图法分类号:
TP216-53
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 定位信息 书刊状态
TP216-53/A864 W0034859   外文图书样本库(401室)     导航 可借
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